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中文摘要: 应用电子探针、X衍射对国内及台湾SiC制品进行了表面化学成分及物相的较详细分析,指出了杂质相来源及对SiC制品使用寿命的影响机理,并提出了控制措施.
中文关键词: 火法炼锌 电子探针 X衍射分析 碳化硅制品
Abstract:
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文章编号: 中图分类号:TF813.061 文献标志码:
基金项目:
赖复兴
韶关冶炼厂!广东,512024
引用文本:
赖复兴.火法炼锌用碳化硅制品表面电子探针及X衍射分析与研究[J].有色金属(冶炼部分),2000(2):36-37,30.
.[J].Nonferrous Metals (Extractive Metallurgy),2000(2):36-37,30.
赖复兴.火法炼锌用碳化硅制品表面电子探针及X衍射分析与研究[J].有色金属(冶炼部分),2000(2):36-37,30.
.[J].Nonferrous Metals (Extractive Metallurgy),2000(2):36-37,30.

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